聯(lián)系人:王存帆
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QNix 7500兩用外置探頭測厚儀的詳細(xì)資料:
品牌 | Qnix/德國尼克斯 | 價(jià)格區(qū)間 | 1千-5千 |
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QNix 7500兩用外置探頭測厚儀
QNix 7500兩用外置探頭測厚儀
測厚儀按照測量的方式不同,可大致分為:
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分:
點(diǎn)接觸式測厚儀
面接觸時(shí)測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同,又可分為以下幾種:
激光測厚儀:是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
X射線測厚儀:利用X射線穿透被測材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
白光干涉測厚儀
電解式測厚儀
為一款常用的點(diǎn)觸式涂鍍層測厚儀,用來精準(zhǔn)測量金屬表面涂鍍層厚度的儀器。
QNix7500:
通過與工藝,行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作,已經(jīng)創(chuàng)建了一個(gè)模塊化涂層厚度計(jì),將各種經(jīng)過驗(yàn)證的QNix7500量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個(gè)設(shè)備中。
模塊化測量系統(tǒng)
QNix7500是一種特別小巧便利的涂層厚度計(jì),可直接插入微型探頭。為了靈活使用,微型探頭也可以連接到延長電纜。QNix7500模塊化測量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動(dòng)性,高測量精度,易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 QNix7500是一種特別小巧便利的測量儀,用于對(duì)所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測量。可以通過直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長電纜上使用。
影響測厚儀測量數(shù)值的主要因素:
1.工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號(hào)。對(duì)于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設(shè)備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對(duì)表面進(jìn)行處理,降低粗糙度,同時(shí)也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過耦合劑能達(dá)到很好的耦合效果。
2.鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,超聲波在其中穿過時(shí)產(chǎn)生嚴(yán)重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示。可選用頻率較低的粗晶探頭(2.5MHz)。
3.被測物背面有大量腐蝕坑。由于被測物另一面有銹斑、腐蝕凹坑,造成聲波衰減,導(dǎo)致讀數(shù)無規(guī)則變化,在情況下甚至無讀數(shù)。
4.金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。金屬表面產(chǎn)生的致密氧化物或油漆防腐層,雖與基體材料結(jié)合緊密,無名顯界面,但聲速在兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,從而造成誤差,且隨覆蓋物厚度不同,誤差大小也不同。
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