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Oxford CMI155測厚儀涂層測厚
Oxford CMI155測厚儀涂層測厚 CMI155用于測量鐵、鋼、鋁和其他基底上的單層涂層或總涂層厚度。此種測量儀具有特別為光 滑表面和擴展測量范圍設計的探針
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